一种激光芯片性能测试机构

本发明涉及激光芯片性能测试设备技术领域，具体涉及一种激光芯片性能测试机构，包括基板，所述基板的顶部开设有中空槽，中空槽的前端和后端均开设有导移槽，导移槽的顶部开设有安装槽，安装槽的内部旋转连接有限控组件，基板的侧壁固定连接有螺纹电机，螺纹电机输出杆的外表面滑动连接有移动板，移动板的顶部固定连接有储存组件，中空槽的后端滑卡连接有两个驱转组件，基板的顶部固定连接有U形板。本发明通过螺纹电机、第一齿板、清洗组件、检测组件、储存组件、限控组件和驱转组件的配合设置，既可以对待测芯片和样品芯片进行固定清理工作，还可以对待测芯片和样品芯片的顶面平整度和涂层贴合度进行检测工作。