一种微波基板缺陷识别与自动分拣方法及系统

本申请公开了一种微波基板缺陷识别与自动分拣方法，包括：设置第一机位进行对微波基板的正反判别，当判断是正面时进入第二机位；设置第二机位进行正面检测与定位，识别正面缺陷，根据识别结果决定进入第三机位或移入废料槽；设置第三机位进行反面检测与模板匹配；根据检测结果决定进入第四机位或移入废料槽；设置第四机位执行微波基板放置与齐套性检测；根据检测结果确定是否完成分拣；为每个微波基板生成ID，进行数据记录、查询与追溯，保证微波基板全流程处理质量。本发明实现了微波基板的全流程处理，有助于提升产品质量一致性与生产效率，为企业带来更高的经济效益与质量管理保障。