一种基于人工智能的芯片测试良率预测方法及装置

本发明属于芯片测试领域，为了解决目前芯片良率预测的准确性有待进一步提高的问题，本发明提供了一种基于人工智能的芯片测试良率预测方法及装置，该方法包括：采集并分析芯片测试的样本集数据，所述样本集数据为历史芯片测试数据；利用所述样本集数据训练预测模型；训练完成后，输入待预测的芯片数据，进行良率预测。本发明根据第一曲线的良率预测待测芯片的良率，第一曲线和第二曲线均包括芯片生产过程中的环境温度、湿度、电阻测试数据，IOFF漏电电流以及测试的良率，通过比较第一曲线与第二曲线的相似度，能够整体考虑环境温度、湿度、电阻测试数据，IOFF漏电电流等数据，从而提高了预测的准确性。