一种基于敏捷变更的芯片测试流程管理系统和方法

本申请提供了一种基于敏捷变更的芯片测试流程管理系统和方法，所述系统包括：测试字典建立模块，建立测试字典；测试流程设置模块，确定待测芯片的测试需求，根据测试需求和测试字典，确定待测芯片的测试程序、测试温度、测试站别，并根据测试站别确定测试顺序，生成测试流程；测试流程卡生成模块，根据测试流程，自动生成测试流程卡，测试流程卡用于指导测试工作，并实时记录各测试站别的测试数据；测试流程卡变更模块，在测试需求产生变更时，实时更新测试流程，并触发测试字典和测试流程卡的动态更新。本申请能够根据芯片的测试需求实现测试流程的灵活扩展与实时更新，覆盖实际生产环境中的多种复杂测试需求，提升芯片测试的准确性和可靠性。