扫描时序深度检测方法、电子设备及存储介质

本发明属于电子设计自动化技术领域，并提出了扫描时序深度检测方法、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待检测的电路设计，设置电路设计的检测起点和检测终点，并创建检测起点对应的起始点和扫描时序深度，起始点用于指代检测起点，检测起点对应的扫描时序深度为预设的默认值；从检测起点开始，沿信号传播方向对电路设计进行遍历，并在遍历的过程中将起始点和扫描时序深度在电路设计中进行传播，直至得到检测终点对应的起始点和扫描时序深度，检测终点对应的扫描时序深度与从检测终点对应的起始点到检测终点的路径中不可扫描触发器的目标数量成正相关。本发明能够快速高效地检测出电路设计中各路径的扫描时序深度。