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Dossier

一种半导体产品焊接质量实时监测及监控方法

InventionActive
8Claims · 1 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

王宝国; 陈海燕; 王甲勇; 张小虎; 张宇曦

IPC Classification

G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/13 (2017.01)G06T 7/155 (2017.01)G06T 5/70 (2024.01)

本发明提供一种半导体产品焊接质量实时监测及监控方法,涉及半导体器件封装技术领域,包括,采用铝线焊接机对半导体产品进行焊接,在焊接完成后采集所述半导体产品的焊点图像数据,将所述焊点图像数据存储于设备磁盘中作为原始焊点图像数据。该半导体产品焊接质量实时监测及监控方法,通过采用铝线焊接机对半导体产品进行焊接,并在焊接完成后采集焊点图像数据,将其实时传输至检测计算机进行预处理,生成焊点特征参数,并与预设的阈值进行比对,从而实现对焊接质量的实时监测与判定。

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