一种基于光感技术的大米检验方法与系统

本发明涉及光感检测技术领域，公开了一种基于光感技术的大米检验方法及系统，其中基于光感技术的大米检验方法包括获取大米样本的可见‑近红外高光谱图像并生成光谱分区掩码，基于光谱分区掩码自适应调整结构光投影参数获取三维点云数据，分析条纹形变模式并提取多模态特征生成特征张量，将多模态特征输入图卷积神经网络输出缺陷‑品种综合评价矩阵。本发明通过光谱预扫描自适应调整投影参数，解决了不同品种大米反射特性差异问题；通过图卷积网络建模空间关系，解决了多模态数据空间配准精度问题。