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数据采样方法、电子设备及介质

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§ Ⅰ

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IPC Classification

H03M 1/12 (2006.01)

本公开提供了一种数据采样方法、电子设备及介质,数据采样方法应用于电子设备,包括:接收由多个传感器采集得到的N路数据,其中N为大于1的整数;获取所述N路数据中的每路数据的采样模式,其中所述采样模式包括重采样模式和直通模式,所述重采样模式表示采样率改变,所述直通模式表示采样率不变,并且所述N路数据中至多有M路数据的采样模式为所述重采样模式,其中M小于N;以及基于所述采样模式对所述N路数据采样。

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