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Dossier

一种芯片、半导体封装结构及电子设备

InventionActive
24Claims · 3 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

呼翔; 何超; 董耀旗; 陈啸; 黄河福; 杨静雯; 许俊豪

IPC Classification

H10D 84/85 (2025.01)H10D 89/10 (2025.01)

本申请公开了一种芯片、半导体封装结构及电子设备,芯片包括第一P型VTFET、第二P型VTFET、第一N型VTFET以及第二N型VTFET,以采用4个VTFET实现交叉耦合电路结构的电路版图,保证芯片性能。并且,该4个VTFET形成对角线交叉结构设计,以采用2个CGP形成交叉耦合电路结构的版图,可以在保证芯片性能的基础上,不增加版图面积。以及,第二P型VTFET的栅极和第一N型VTFET的栅极通过第一栅极接触部相互连接,且第一P型VTFET的栅极和第二N型VTFET的栅极分别设置于第一栅极接触部两侧、并与第一栅极接触部间隔设置,可以降低短接风险,可以保证芯片的安全。

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