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기록

紫外辐射照度计定标方法、装置、设备、系统及介质

발명유효
10청구항 · 5 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

王彦飞; 张宇; 代彩红; 李玲; 吴志峰; 许超群; 程秋桐

IPC 분류

G01J 1/16 (2006.01)G01J 1/42 (2006.01)

本发明提供一种紫外辐射照度计定标方法、装置、设备、系统及介质,涉及光学技术领域,该方法包括:基于目标固定点黑体的光谱辐射照度、目标紫外光源的相对光谱辐射照度分布、待定标紫外辐射照度计在目标固定点黑体的辐射场中的相对光谱功率响应度、待定标紫外辐射照度计在目标紫外光源的辐照平面的相对光谱功率响应度以及目标固定点黑体的原始紫外辐射照度,计算得到待定标紫外辐射照度计的目标校准因子,用于对待定标紫外辐射照度计进行定标,有效缩短了紫外辐射照度计定标的溯源链条,避免了多次量传所带来的误差累积,实现了高精度、可溯源的绝对校准,提高了紫外辐射照度计定标的准确性和操作简便性。