一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统

本发明涉及了光钟计量仪器技术领域，具体涉及了一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统，方法包括：基于光晶格钟平台，形成一维水平浅光晶格束缚待测微观粒子。先对待测粒子激光冷却，再装载至光晶格，通过光抽运将其制备到基态单一塞曼子能级。接着，调制一维水平浅光晶格中的一束晶格光使其周期性晃动。随后，确定不同调制幅度下待测粒子的钟跃迁谱线线宽，找出最小线宽对应的临界调制幅度。最后，依据临界调制幅度与晶格光波长，精确推断出光晶格囚禁的微观粒子的绝对质量。