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기록
一种电路板缺陷的自动光学检测装置及方法
발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
吴耀鸿; 吴作栋; 望庆峰
IPC 분류
G01N 21/88 (2006.01)G01N 21/956 (2006.01)G06V 10/40 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)
本申请涉及图像匹配技术领域,具体涉及一种电路板缺陷的自动光学检测装置及方法,该方法采集待检测的电路板的标准电路板图像和电路板图像,提取特征像素点;确定对应的特征像素点的相对差异、边缘像素点的匹配运动矢量,识别所有异常运动像素点;获取异常运动像素点组成的连通域,计算连通域的变化平滑性、待检测的电路板的缺陷可能性,根据缺陷可能性,获取电路板缺陷的光学检测结果。本申请能够提升电路板缺陷的准确性。