一种芯片表面质量双面检测系统

本发明公开了一种芯片表面质量双面检测系统，涉及芯片表面检测领域，包括检测台，检测台上开设有滑槽，滑槽内滑动装配有定位板，定位板的顶面固定有横向定位凸台与纵向定位凸台，横向定位凸台与纵向定位凸台呈直角连接，用于形成定位基角，检测台上设置有夹持组件，夹持组件包括小径负压管和小径挤压杆，小径负压管与小径挤压管均靠近或远离滑槽移动，检测台的下方与上方分别设置有下工业相机和上工业相机，检测台上设置有芯片翻转机构，芯片翻转机构用于将芯片翻转180°，使芯片的引脚朝上倒置在检测台上，不用以引脚为定位基准，从根源上规避了引脚变形对定位的干扰，显著提升引脚点位检测的准确性。