一种集成电路主板的性能检测分析方法及系统

本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种集成电路主板的性能检测分析方法及系统。该方法包括获取并清洗历史电压、电流和温度数据，生成洁净历史数据集；评估该数据集的参数波动，计算得到电压、电流和温度的稳定度估值；将这些估值输入预先训练的检测周期推荐网络，该网络通过比对历史模式库，输出定制化的检测频率；基于此频率部署实时监测，采集瞬时的电压、电流、温度读数及信号质量指标，组装成实时数据集；利用模式识别引擎对该实时数据集进行多维度解析，划分主板的性能状态类别并输出评估标签。本发明实现了检测频率的自适应优化和性能状态的智能诊断，提升了检测效率和预警的准确性。