一种微环调制器光芯片的测试系统

本发明涉及一种微环调制器光芯片的测试系统，属于光芯片测试技术领域，该系统包括：测试子板、控制主板、光路耦合装置及输出装置；测试子板接收控制主板输出对光芯片进行测试的多模态测试信号；测试子板对待测光芯片的温度、相移器电流分别进行调整，以及输出装置采集在光路耦合状态下输出的光信号，将采集的光信号、该光信号所属的温度、相移器电流数据形成三维数据查找表进行输出；光路耦合装置用于将光芯片与测试光信号进行光路耦合，并监测耦合过程中光芯片环回波导的光功率变化，以调整耦合光路至最优耦合状态。本发明提高了测试效率，支持多芯片并行测试与闭环光耦合优化，达到了光芯片快速谐振波长和工作点锁定，和高效批量测试的效果。