Back to Search
Dossier
伺服测试系统、方法、电子设备及存储介质
InventionActive
10Claims · 4 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Applicant
北京和利时智能技术有限公司
Inventor
潘冬琪; 安太强; 李红飞; 程颢; 陈达; 宋旋
IPC Classification
G05B 23/02 (2006.01)
本申请涉及伺服驱动技术领域,提供了伺服测试系统、方法、电子设备及存储介质。伺服测试系统包括工控机、传感器以及至少两个不同的控制单元,不同的所述控制单元用于测试不同类型的被测伺服系统;所述工控机用于根据目标被测伺服系统的类型,确定所述目标被测伺服系统对应的所述控制单元,根据所述目标被测伺服系统生成对应的测试指令,并将所述测试指令发送到所述目标被测伺服系统对应的所述控制单元;所述控制单元用于基于所述测试指令对所述目标被测伺服系统进行控制;所述工控机还用于接收所述传感器采集的所述目标被测伺服系统的运行参数,并基于所述运行参数确定所述目标被测伺服系统的测试结果,实现对不同类型的被测伺服系统的测试。
External Resources