车载芯片的测试控制方法、装置及存储介质

本发明涉及车载电子测试技术领域，具体涉及车载芯片的测试控制方法、装置及存储介质，包括以下步骤：S1：从预置的车载环境数据库中获取一组随时间同步变化的动态环境参数；S2：生成复合测试指令；S3：将复合测试指令发送至环境参数模拟器和电源模块，使待测车载芯片进入复合应力测试状态；S4：将输出响应信号与预存的预期响应信号进行比对，判定是否异常；S5：调取所有异常记录，以识别导致测试异常的主导参数及其异常阈值范围；S6：生成最终的测试分析报告。本发明，通过构建基于时间同步的多应力测试控制机制，实现了车载芯片在复杂工况下的精准测试与异常溯源分析，提升了测试的真实性与可追溯性。