一种生成扫描模式的方法、装置及电子设备

本公开提供了一种生成扫描模式的方法、装置及电子设备，属于电子设计自动化技术领域，该方法包括：获取芯片项目信息，芯片项目信息包括多个芯片模块的属性信息和可用输入/输出I/O数量，多个芯片模块的属性信息包括每个芯片模块的寄存器总数；基于属性信息和区块分配约束，确定将多个芯片模块划分至多个扫描区块的目标划分组合；基于可用I/O数量和每个芯片模块包括的寄存器总数，确定目标划分组合下，满足扫描参数约束的每个扫描区块的目标扫描链长度和目标压缩率。从而将各个芯片模块分配至各个扫描区块。