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Dossier

一种大型结构件的缺陷尺寸标定方法、系统、设备及介质

InventionActive
10Claims · 4 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

周鑫; 孙晓立; 谷利雄; 吴建良; 杨军

IPC Classification

G06T 7/60 (2017.01)G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/70 (2017.01)

本发明公开了一种大型结构件的缺陷尺寸标定方法、系统、设备及介质,适用于包括相机及多个激光发射器的图像采集装置,所述缺陷尺寸标定方法包括:定位待测大型结构件中缺陷所在的表面区域,并在所述表面区域上形成若干个激光点;获取包含激光点及表面区域在内的区域图像及激光点在区域图像中的激光像素坐标、相机与表面区域的距离及相机的焦距,以根据距离、焦距及激光像素坐标确定相机的图像采集角度;从区域图像中裁切缺陷对应的缺陷图像,并获取缺陷图像在区域图像中的缺陷像素坐标,以根据缺陷像素坐标、图像采集角度、距离及焦距确定缺陷的尺寸,以提高缺陷尺寸标定的精准度。

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