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Dossier
基于YOLOV8网络的晶圆表面缺陷识别与分类方法
InventionActive
10Claims · 3 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Applicant
上海华力集成电路制造有限公司
Inventor
万洁; 李金金; 龚丹莉
IPC Classification
G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06V 10/20 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)G06V 10/80 (2022.01)G06V 10/75 (2022.01)G06V 10/766 (2022.01)G06N 3/0464 (2023.01)G06N 3/045 (2023.01)G06N 3/048 (2023.01)G06N 3/0499 (2023.01)G06N 3/084 (2023.01)G06N 3/096 (2023.01)G06N 5/01 (2023.01)G06T 7/00 (2017.01)
本发明涉及一种基于YOLOV8网络的晶圆表面缺陷识别与分类方法,包括:获取晶圆表面的原始扫描图像,并对其进行数据增强处理,构建训练数据集;对图像进行预处理,得到标准化图像;构建基于YOLOV8的检测网络及识别网络,在检测网络的骨干网络中嵌入卷积注意力机制,并将部分传统卷积层替换为深度可分离卷积层;利用公开图像数据集对检测网络和识别网络分别进行预训练,利用标准化图像对预训练后的检测网络进行微调,得到训练好的检测网络和识别网络;将待检测晶圆的扫描图像输入至训练好的检测网络和识别网络中,根据两者的预测结果进行综合评估,并输出最终的缺陷检测和分类结果。本发明增强了对微小缺陷、复杂形态缺陷的识别能力。
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