一种容变存储阵列测试装置

本发明公开了一种容变存储阵列测试装置，属于半导体存储器件测试技术领域，包括待测阵列、开关矩阵、ADC模块、高速脉冲DAC模块和基于ZYNQ平台的控制逻辑模块；所述待测阵列与所述ADC模块通信连接；待测阵列与所述高速脉冲DAC模块连接；基于ZYNQ平台的控制逻辑模块包含处理系统PS和可编程逻辑模块PL；ADC模块的输出端与可编程逻辑模块PL连接；可编程逻辑模块PL与开关矩阵连接；可编程逻辑模块PL与高速脉冲DAC模块通信连接；基于ZYNQ平台的控制逻辑模块与上位机通信连接。本发明实现高度集成与协同，提高了系统的高灵活性与可编程性，极大提升了测试效率；保证了高性能与高精度，降低成本，增加性价比。