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기록
半导体存储装置
발명유효
2조회수
20청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
荒井伸也; 和田秀雄
IPC 분류
H10B 41/20 (2023.01)H10B 41/35 (2023.01)H10B 43/20 (2023.01)H10B 43/35 (2023.01)
实施方式的半导体存储装置具备:第1芯片,包含具有第1区域及第2区域的衬底;及第2芯片,在Z方向上与第1芯片相接,经由设置在与第1芯片的边界区域的多个连接垫与第1芯片电连接;第2芯片包含:存储胞阵列,设置在第1区域,具有源极线、在比源极线更下方的位置沿第1方向彼此分开地设置的多个字线、及上端与源极线连接的存储器柱;多个接点,设置在第2区域,沿第1方向延伸,各自与多个连接垫中的任一个电连接;导电体图案,与多个接点的上端相接;及第1配线层,在导电体图案的上方延伸,与导电体图案电连接。