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Dossier
一种离子注入方法
InventionActive
8Claims · 1 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Applicant
华虹半导体(无锡)有限公司
Inventor
杨欣; 郭振强; 冯冰
IPC Classification
H10D 84/01 (2026.01)H10D 84/85 (2025.01)H10P 30/20 (2026.01)
本申请公开了一种离子注入方法,包括:提供一衬底,所述衬底包括PMOS区域和NMOS区域;在位于所述NMOS区域的衬底上形成光阻层,使得所述PMOS区域露出;以所述光阻层为掩膜,进行源漏区离子注入工艺,以在所述衬底中形成PMOS器件的源区和漏区;以所述光阻层为掩膜,对所述源区和漏区进行氟离子注入工艺。本申请通过上述方案,能够提高PNP电流增益。
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