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Dossier

一种晶圆处理装置

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§ Ⅰ

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Inventor

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IPC Classification

H10P 72/00 (2026.01)H05B 6/02 (2006.01)H10P 72/76 (2026.01)

本申请公开了一种晶圆处理装置,属于半导体制造技术领域,包括基座、加热组件和反应空间;基座具有第一表面,加热组件包括加热件,加热件具有第二表面,第二表面与第一表面相对设置;反应空间位于基座和加热件之间,为反应气体提供流通通道。本申请中,基座具有沿第一方向延伸设置的第一中心轴线,基座可沿第一中心轴线转动;加热件具有沿第一方向延伸设置的第二中心线,加热件可沿第二中心轴线转动;第一中心轴线落后于第二中心轴线,使得基座在带动晶圆转动时,提高晶圆的受热温度均匀性。

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