一种多探针适配的零件纳米级误差检测方法及系统

本发明公开了一种多探针适配的零件纳米级误差检测方法及系统，涉及检测技术领域，该方法包括：获取对象零件的零件模型，并基于零件模型进行形状‑探针匹配；根据形状‑探针匹配结果，对零件模型进行分区分割，获取多个局部零件模型；根据形状‑探针匹配结果，结合多探针的探针检测精度，对多个局部零件模型进行多分辨率的模型简化，获取多个局部简化零件序列；分别以多个局部简化零件序列为检测分区，结合多探针进行对象零件的多分辨率检测，并结合多个局部简化零件序列与多分辨率检测结果进行模型构造，获取检测模型；比对检测模型与零件模型，获取对象零件的误差检测结果。本发明解决了现有技术中存在的零件检测准确性不佳的技术问题。