Back to Search
Dossier
一种黄金首饰掺杂物的穿透式无损检测装置及检测方法
InventionActive
1views
7Claims · 2 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Inventor
许谷; 许佳航
IPC Classification
G01N 23/04 (2018.01)B25B 11/00 (2006.01)
本发明公开一种黄金首饰掺杂物的穿透式无损检测装置及检测方法,该方法采用X射线发生器高电压扫描的方式,经过记录及计算,反推出被穿透样品的衰减响应,由此显示出所含金属元素的特征谱线,并据此获得该元素的含量。本发明解决了之前X荧光谱仪仅能探测物件表层数十微米薄层的困难。本发明的检测装置能够实现黄金首饰掺杂物的穿透式无损检测,具有无损、高精度、便携和低成本等优点,有效解决了现有检测方法存在的问题,满足了市场对简捷有效的穿透式黄金探测仪器的需求。
External Resources