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Dossier
基于相似性原理的真空二极管缩比测试方法及装置
InventionActive
10Claims · 5 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Inventor
付洋洋; 林楚彬
IPC Classification
G01R 31/26 (2020.01)G01R 31/25 (2006.01)
本申请涉及器件性能测试技术领域,特别涉及一种基于相似性原理的真空二极管缩比测试方法及装置,其中,方法包括:确定待测的真空二极管原型机的固有参数及目标测试工况,根据固有参数及目标测试工况生成原型机的测试控制参数集;基于原型机的测试控制参数集,利用目标相似性原理对原型机的几何尺寸等比缩放,确定原型机的缩比模型及对应缩放后的工况;基于缩放后的工况,对缩比模型进行测试,得到缩比模型的工作参数与性能,并根据工作参数与性能反推得到原型机的工作参数与性能。由此,解决了相关技术中,因高功率真空二极管原型机的等比测试需要制造极大的尺寸并要求极高的电压,导致测试成本较高,且测试效率及安全性无法得到有效保障的问题。
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