一种单板无损测试装置

本发明涉及芯片测试装置技术领域，尤其涉及一种单板无损测试装置，解决目前芯片与测试板反复插接容易导致芯片本体的连接触点磨损，导致影响测试准确性、提高更换芯片成本等问题。其技术方案包括机架、横向滑动安装于机架上的承载台、竖向滑动安装于机架上的安装台，所述安装台上固定竖直设置的芯片，所述承载台上放置与芯片垂直插接的测试板，安装于机架上的压合机构，安装台上安装有连接板，连接板上滑动安装有连接块，连接块上安装有与测试板插接的连接端口。本发明实现了芯片与测试板在竖直和水平方向上的精准、稳定插接，确保了测试连接的可靠性，同时通过限位杆与限位槽的配合锁定了测试状态，防止意外松动。