量子芯片版图中器件的检测方法、装置及电子设备

本发明涉及量子芯片版图设计技术领域，具体涉及一种量子芯片版图中器件的定位方法、装置及电子设备，包括：在量子芯片版图中生成目标器件时获取目标器件的器件参数，并新建所述目标器件对应的衍生图层；基于所述器件参数在所述衍生图层上生成与所述目标器件位置相同且轮廓完全覆盖所述目标器件的衍生图形；响应于所述目标器件的定位指令选择所述衍生图层，对所述衍生图层中的衍生图形进行识别以定位所述目标器件。本申请能够实现在量子芯片版图上对目标器件的快速定位，避免单一的使用器件本身所处的图层进行定位时会识别到其他器件而产生大量非目标检测对象的错误结果的问题，同时为后续器件的质量检测提供便利。