一种基于FPGA的AD芯片自适应寻优方法

本申请涉及数字信号处理技术领域，特别涉及一种基于FPGA的AD芯片自适应寻优方法，该方法包括：在FPGA上电时，配置AD芯片进入内部测试模式，并获取内部测试模式的预设测试数据；在寻优过程中，通过控制时钟通道的延迟值与数据通道的延迟值以调整延迟组合，并获取各延迟组合对应的寻优周期的采样数据；基于各延迟组合对应的寻优周期的采样数据和预设测试数据，在各延迟组合中确定稳定采样区间；基于稳定采样区间，确定最佳采样时刻，并配置AD芯片进入正常工作模式。该方法能够实现高速ADC与FPGA接口的自适应时序优化，确保在不同条件下都能稳定可靠地捕获数据。