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기록
一种MIM电容器结构及制作方法
발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
李丹; 杨涛; 林晓涵
IPC 분류
H10D 1/68 (2025.01)
本发明提供一种MIM电容器结构及制作方法,形成预设位置的膜层后,进行超临界流体低温高压处理,能够极大程度减小膜层界面的氧空位,改善膜质粗糙度,进而减小电容器漏电流,提高电容器性能。
발명자
李丹; 杨涛; 林晓涵
IPC 분류
本发明提供一种MIM电容器结构及制作方法,形成预设位置的膜层后,进行超临界流体低温高压处理,能够极大程度减小膜层界面的氧空位,改善膜质粗糙度,进而减小电容器漏电流,提高电容器性能。