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기록

半导体器件及其制备方法

발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

李庆; 张彦飞; 刘梦新; 温霄霞; 王丹丹; 张丹阳

IPC 분류

H10D 30/60 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)H10D 62/10 (2025.01)

本申请公开了一种半导体器件及其制备方法,半导体器件包括衬底、外延层、阱区、源区、第一绝缘层以及第一电极层;外延层设置于衬底沿厚度方向的一侧;阱区位于外延层内,源区位于阱区内;第一绝缘层设置于外延层背向衬底的一侧;第一电极层设置于第一绝缘层背向衬底的一侧,第一电极层包括汇集部以及至少两个分支部,各分支部连接于汇集部的同一侧,沿汇集部的延伸方向,分支部在衬底上的正投影与源区在衬底上的正投影交错设置;其中,阱区包括沿分支部延伸方向设置的第一子区和第二子区,第一子区在衬底上的正投影与第二子区在衬底上的正投影不交叠,汇集部在衬底上的正投影落入第一子区在衬底上的正投影范围内。