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기록

压电振膜及其制备方法、采用该压电振膜的MEMS器件

발명유효
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

沈淑馨; 宋庆阳; 黄峰; 黄静龙

IPC 분류

H10N 30/20 (2023.01)H10N 30/85 (2023.01)H10N 30/07 (2023.01)B81B 7/02 (2006.01)

本发明提供一种压电振膜及其制备方法、采用该压电振膜的MEMS器件,所述压电振膜包括基底以及依次设置在所述基底上的底电极、缓冲层、压电薄膜层以及顶电极,其特征在于,所述基底的参数满足如下条件中的至少一个:所述基底的杨氏模量小于硅的杨氏模量,所述基底的剪切模量小于硅的剪切模量,所述基底的断裂延伸率大于硅的断裂延伸率。本发明实施例提供的压电振膜中,所述基底为非硅基底,使得所述压电振膜抗机械载荷能力增大,并且基底作为从动层,无需大的驱动力即可引发振动,这使得所述压电振膜的振幅相较采用硅基底的压电振膜的振幅大,进而能够提高MEMS器件的性能。