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案件記録

晶圆清洗机和晶圆清洗方法

発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

许雨芩; 杨昱霖

IPC分類

H10P 70/00 (2026.01)H10P 95/90 (2026.01)H10P 90/00 (2026.01)B08B 3/02 (2006.01)B08B 3/08 (2006.01)B08B 3/10 (2006.01)

本申请公开了一种晶圆清洗机和晶圆清洗方法,涉及半导体技术领域。晶圆清洗机包括:承载台用于承载形成有接触孔的待清洗晶圆,接触孔中具有颗粒;第一清洗模组用于将混合清洗剂喷射至接触孔中,颗粒位于混合清洗剂中;混合清洗剂包括多元醇清洗剂和异氰酸酯清洗剂;加热模组用于提供加热环境,使接触孔中的混合清洗剂形成吸附有颗粒的聚氨酯清洗物;第二清洗模组用于将预设清洗剂喷射至接触孔中,以去除聚氨酯清洗物。实现待清洗晶圆的清洗,避免颗粒的残留。

外部リソース