继电器触点形貌的分析方法、装置、设备、介质及程序

本申请提供一种继电器触点形貌的分析方法、装置、设备、介质及程序，属于电池技术领域。继电器触点形貌的分析方法包括：获取继电器的多个触点形貌特征，多个触点形貌特征中的每个触点形貌特征分别指示继电器的相应的触点表面形貌；基于多个触点形貌特征，确定继电器的第一预测结果，第一预测结果指示继电器所经过的测试类型；基于第一预测结果和多个触点形貌特征，确定继电器的第二预测结果，第二预测结果指示继电器所经过的测试流程。该方法可以通过继电器的触点形貌来快速确定继电器的相关工况。