一种电子元件质量缺陷测试方法及系统

本发明公开了一种电子元件质量缺陷测试方法及系统，涉及质量测试技术领域，包括如下步骤：依据历史目标数值获取第一绘制圆；依据历史目标数值与第一绘制圆获取第一筛选阈值与第二筛选阈值；依据历史温度与第一筛选阈值获取第一对应函数；依据历史温度与第二筛选阈值获取第二对应函数；依据实时对照温度与第一对应函数获取第一实时正常阈值；依据实时对照温度与第二对应函数获取第二实时正常阈值；通过实时目标数值、第一实时正常阈值以及第二实时正常阈值判断电子元件质量是否出现缺陷；本发明用于解决现有技术中数据采集与不同温度下质量正常阈值获取不准确，导致后续质量缺陷测试不准确的问题。