一种半导体激光器芯片测试装置

本发明公开了一种半导体激光器芯片测试装置，包括测试底座和测试平台，测试平台上设有多个安装槽，安装槽内设有限位框；安装槽内滑动设有两组对称的定位件、调节件及驱动杆；定位件一端设有延伸至限位框内的夹板，定位件与限位框之间设有第一弹性组件；调节件与两定位件通过倾斜面配合，使其移动时推动两定位件同步相向移动夹持芯片；驱动杆与调节件之间设有弹性系数更大的第二弹性组件；测试平台上螺纹连接有螺柱，螺柱侧壁设有坡面通槽，螺柱旋转下降时通过坡面同步推动各驱动杆，实现多芯片同步自动夹持定位，并能自适应兼容不同型号芯片的同步夹持，显著提高作用效率。