一种基于TRACE32的嵌入式控制器故障现场快速复现与变异测试方法及系统

本发明公开了一种基于TRACE32的嵌入式控制器故障现场快速复现与变异测试方法及系统，涉及嵌入式系统调试与测试技术领域，包括以下步骤：通过调试接口建立上位机软件与调试器以及目标嵌入式系统之间的通信连接，设置断点触发条件并定义需采集的寄存器及变量集合，在断点命中瞬间由调试器执行内联指令，将寄存器值与变量值写入日志文件并恢复目标嵌入式系统运行，同时按照断点类型、目标标识及时间信息生成对应日志文件标识。本发明基于非侵入式调试接口，实现完整状态采集与高精度复现，通过快照回滚与变异测试快速定位故障原因，同时具备低成本部署与图形化操作优势，显著提升嵌入式系统调试效率与准确性。