一种内存缓冲芯片的调试系统与方法及电子设备

本发明提出一种内存缓冲芯片的调试系统与方法及电子设备，调试子单元通过第一总线与主机通信连接，调试子单元通过第二总线与内存缓冲芯片通信链接，第一总线和第二总线未接入主机端内存缓冲芯片之间的主数据通路；主机用于向调试子单元发送调试命令；调试子单元用于执行调试命令，以完成内存缓冲芯片的相关的调试操作。通过调试子单元修改内存缓冲芯片中的状态寄存器和/或控制寄存器，在内存缓冲芯片的调试过程中，不需要修改主机BIOS中的参数，不需要重启，芯片参数调优的迭代周期从分钟级缩短至秒级，提升了调试效率。