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Dossier

一种FPGA内置eFUSE单元的抗误烧写控制方法

InventionUnknown
10Claims · 1 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

何小飞; 何笑; 仲伟汉; 闫华; 徐玉婷; 曹正州

Filing Date

Jul 17, 2026

Publication Date

Oct 16, 2026

IPC Classification

G06F 21/76 (2013.01)G06F 21/79 (2013.01)G06F 21/57 (2013.01)

本申请公开了一种FPGA内置eFUSE单元的抗误烧写控制方法,涉及FPGA技术领域,该方法在对eFUSE单元烧写之前,首先利用FPGA内部的配置下载控制逻辑下载测试位流进行测试,并将各待修调项的测试值输出至测试引脚,然后根据各待修调项的测试值与目标值的偏差确定目标烧写码点,经由eFUSE控制逻辑对eFUSE单元进行烧写。该方法在烧写eFUSE单元之前加入测试校准流程来确定最终的目标烧写码点,可以实现对FPGA内部eFUSE单元的精准烧写,从而避免误烧写,有利于提高FPGA参数一致性且有利于提升量产良率。

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