半导体生产监控方法、装置、电子设备和存储介质

本发明提出一种半导体生产监控方法、装置、电子设备和存储介质，涉及半导体生产监控领域。该方法包括：对每次接收的原始生产报表进行标准化处理，得到对应的标准生产报表；基于已收到的同一产品批次的标准生产报表，依次比较相邻报表日期的两个标准生产报表中的标准站点名称和标准子站点名称是否发生变化，得到比较结果；根据比较结果将同一产品批次的标准生产报表划分到多个停留段，基于多个停留段、每个停留段对应的起始时间、结束时间和停留天数，生成产品批次对应的生命周期轨迹数据。本发明能够将离散的静态快照数据转化为连续的产品批次生命周期轨迹，并通过对原始生产报表进行标准化处理，降低了系统维护成本和多源数据整合的难度。