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Dossier

晶圆缺口检测方法

InventionUnknown
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10Claims · 1 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

郑璐; 魏浩东; 苗涛

Filing Date

Jul 23, 2026

Publication Date

Oct 16, 2026

IPC Classification

G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/11 (2017.01)G06T 7/13 (2017.01)G06T 7/136 (2017.01)G06T 7/62 (2017.01)G06T 7/73 (2017.01)

本申请涉及一种晶圆缺口检测方法,包括:获取晶圆的灰度图像,在灰度图像处划分出晶圆区域;在晶圆区域的边缘限定一环形区域;将环形区域中像素的极坐标转换为直角坐标,使环形区域转换为展开图;通过采样窗口在展开图上依次采集各个区域内像素的灰度均值;计算相邻区域间灰度均值的差值;当差值大于第一预设值时,获取目标区域;逐行计算目标区域内相邻像素间的灰度差值,若灰度差值大于第二预设值,记录当前像素为采样点;基于采样点的坐标,获取缺口的位置信息;本申请可基于图像特征自适应快速且准确识别定位缺口,无需人工裁剪模板或设置匹配阈值,提高检测精度与生产效率。

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