一种高速存储芯片全自动读写功能测试方法及系统

本申请提供一种高速存储芯片全自动读写功能测试方法及系统，属于存储器测试技术领域。该方法通过构建集成化硬件平台，包括测试主机、探针台、数据采集卡及温度控制模块，实现全链路自动化测试。测试过程中，生成混合测试向量并加载至待测芯片存储阵列，驱动芯片写入操作，在动态延迟时间后触发读取操作，捕获电平信号并转换为数字化读出数据。引入双次读取误差分析模型，通过对同一存储地址进行两次读取，计算逻辑偏离度并与误差阈值比较，判定存储单元是否存在功能性失效，并根据失效单元的物理地址分布特征进行故障分类与地址标记。该系统有效提升高速存储芯片在量产阶段的质量控制效能，实现对复杂失效模式的精准识别与自动化分类。