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一种基底的保护方法及半导体器件

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§ Ⅰ

개요

발명자

胡盛文

출원일

Jun 18, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H10P 90/00 (2026.01)

本申请公开了一种基底的保护方法及半导体器件,涉及半导体技术领域,用于解决由于污染造成的半导体器件制造良率低的问题;基底包括相对设置的上表面和下表面、以及连接上表面和下表面的侧面;基底的保护方法包括:在基底的上表面的边缘、下表面的边缘和侧面形成保护层,保护层的材料包括:聚甲基丙烯酸甲酯或聚甲基丙烯酸;在基底的上表面具有功能层的情况下,去除功能层的一部分以及保护层,一部分为覆盖保护层的部分,其中,功能层是在形成保护层之后形成的;基底的保护方法用于制备半导体器件。