CNIPA.AI
Back to Search
Dossier

测试电路及包含其的电子装置以及测试方法

InventionUnknown
21views
28Claims · 4 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

刘利子; 苏涛; 王广旭; 郑福

Filing Date

Apr 14, 2025

Publication Date

Oct 20, 2026

IPC Classification

G01R 31/28 (2006.01)G01R 31/30 (2006.01)G01R 31/26 (2020.01)

本申请涉及测试电路及包含其的电子装置以及测试方法。一种测试电路包括:第一电路,其包括:多个测试输入端子,其可配置以接收多个比较器测试信号,其中每个比较器测试信号与相应测试比较器的阈值电压相关联;以及测试输出端子,其中所述第一电路可配置以响应于所述多个比较器测试信号而在所述测试输出端子处生成总组合测试信号。

External Resources