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一种SGT器件及其制备方法
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10D 30/60 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)H10D 64/27 (2025.01)H10D 64/68 (2025.01)H10D 62/10 (2025.01)
本发明提供一种SGT器件及其制备方法,属于半导体器件领域,本发明的SGT器件包括:衬底;外延层,位于衬底上,外延层包括相对设置的第一表面和第二表面;多个沟槽,位于外延层内,自第一表面向第二表面延伸至外延层内,多个栅极结构,多个栅极结构沿第一方向间隔排布;栅极结构包括分裂栅结构,分裂栅结构包括屏蔽栅和控制栅,以及间隔屏蔽栅和控制栅的极间介质层;复合绝缘层,位于屏蔽栅的侧壁与沟槽的侧壁之间,屏蔽栅的底部与沟槽的底部之间,复合绝缘层为氧化硅层与氮化硅层的叠层结构,有效提高器件的击穿电压。