芯片性能检测方法、装置、设备及存储介质

本申请提供一种芯片性能检测方法、装置、设备及存储介质，属于芯片测试技术领域，该方法包括在接收到DDR性能检测请求时，性能处理单元根据DDR性能检测请求确定DDR性能测试场景，DDR性能测试场景为表征不同访存条件的测试场景；根据DDR性能测试场景，确定性能测试配置参数，性能测试配置参数包括选定的每个目标主设备的被分配的目标带宽；所述端口单元根据性能测试配置参数接收每个目标主设备从对应的所述信号端口传输的测试数据；根据每个目标主设备传输的测试数据在所述DDR单元中进行数据读写操作，并基于数据读写操作生成芯片的性能测试结果。本申请能够实现在不同负载下的性能测试，极大地提高了DDR芯片的性能检测的准确性和效率。