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Dossier
硅电容及其制作方法、电子器件
InventionActive
10Claims · 3 independent
§ Ⅰ
Dossier Overview
Inventor
汪大祥; 徐迪; 张雄; 李青
IPC Classification
H10D 84/01 (2026.01)H10D 84/00 (2025.01)H10D 1/68 (2025.01)H10D 1/00 (2025.01)
本公开提供了一种硅电容及其制作方法、电子器件,制作方法包括:获获取初始多层薄膜硅电容;基于初始多层薄膜硅电容得到多层深沟槽硅电容,基于多层深沟槽硅电容制作得到目标多层薄膜硅电容;相比于传统的单次只能蚀刻一个电极层和介质层,需形成台阶结构的多层硅电容制作方法,本公开硅电容的介质层层数不受限制,且每层介质层的面积得到有效提升,显著提升了多层薄膜硅电容的电容密度,且在一次刻蚀过程中可以同时刻蚀全部的电极层和介质层,在提升多层薄膜硅电容的电容密度的同时降低了制作成本,简化蚀刻工艺步骤,提高电容器的制作效率。
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