一种基于改进RT-DETR的PCB缺陷检测方法及系统

本发明涉及一种基于改进RT‑DETR的PCB缺陷检测方法，属于PCB检测技术领域，包括，S1、获取PCB图像数据集，采用混合对象迁移HOM数据增强策略对PCB图像数据集进行处理，生成增强训练样本；S2、构建改进RT‑DETR模型，改进RT‑DETR模型包括混合快速傅里叶变换网络HybFFT‑Net主干网络和跨层交互颈CLI‑Neck；S3、利用增强训练样本对改进RT‑DETR模型进行训练，优化模型参数，得到训练完成的PCB缺陷检测模型；S4、将待检测PCB图像输入训练完成的PCB缺陷检测模型，通过模型推理得到PCB缺陷检测结果，缺陷检测结果包括缺陷位置与缺陷类别。本发明利用真实缺陷目标的跨图像迁移与重构，有效提升了模型对多样化背景和复杂场景的适应能力。