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Dossier

一种单晶硅制备中坩埚投料的方法及应用

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§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

徐自寒; 乔乐; 武辉; 付明全; 徐志群

IPC Classification

C30B 15/00 (2006.01)C30B 29/06 (2006.01)

本发明提供了一种单晶硅制备中坩埚投料的方法及应用,涉及半导体材料制造技术领域。具体而言,当坩埚内颗粒硅的装料量≤200kg时:先在坩埚底部装入小料,而后在所述小料的上部中间处装入颗粒硅,再在所述颗粒硅与坩埚壁之间填充块状硅,最后在所述颗粒硅的上部平铺所述块状硅;当坩埚内颗粒硅的装料量>200kg时:先在坩埚底部装入小料,而后在所述小料的上部平铺颗粒硅,最后在所述颗粒硅的上部平铺小料;另外,控制复投阶段的氩气流量高于所述初装阶段的氩气流量。本发明能够有效减少初装投颗粒硅过程中溅射现象,通过改进装料方式、优化加热过程及控制熔体状态等措施,显著减少了颗粒硅的溅射,提高了单晶硅的质量。

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